訂制工業(yè)CT檢測模塊
工業(yè)CT檢測模塊基于計算機(jī)斷層掃描技術(shù),搭載高精度X射線源與數(shù)字平板探測器,掃描速度可在0.001至0.127次/秒范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié),支持微米級分辨率成像,檢測精度覆蓋納米至毫米量級,可穿透金
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更新日期
2025-06-2102
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